Test de criblage en conditions controlées pour la résistance du pois à Aphanomyces euteiches

Abstract

La pourriture racinaire précoce du pois est due à un oomycète d’origine tellurique, Aphanomyces euteiches. Cette maladie, apparue en France au début des années 1990, est responsable de pertes de rendement très importantes, pouvant atteindre 100% en cas de forte attaque. Afin d’étudier la résistance du pois à A. euteiches et de faire progresser la sélection variétale, il est apparu nécessaire de disposer d’un test en conditions contrôlées, utilisable en routine.